膜厚测量仪的众多分类以及在使用时需要注意的情况

　　一、测量仪分类

　　1.激光测厚仪

　　激光测厚仪是才采用了激光反射原理制造而成，属于一种非接触式的厚度测量仪器，主要用来对各种零件以及机械表面的进行微观测量，从而得出物件的厚度。

　　并且该种测量仪能够与电脑终端相连接，直接将物体的厚度以数字形式进行输出，简便快捷，适用性高，在各行业都可以看见它的身影。

　　2.X射线厚度测量仪

　　该型厚度测量仪的原理是利用X射线子穿过物体之后，其强弱程度造成变化，并通过灵敏的感应元件和计算机对X射线的照射前后的强度进行对比，也属于一种非接触式测量仪器。该测量仪器主要应用于有色金属板加工和冶金行业。

　　3.膜厚测量仪

　　膜厚主要对各种薄膜的厚度进行测定，测量速度快、精度高，在薄膜制造业有着很重要的应用。除此之外，它还具有作业位置灵活、数据输出、测量单位自动转换等特性，更是方便了人们的测量工作。

　　4.超声波测量仪

　　超声波测量仪采用了声波反射原理制作而成。当声波抵达被测物件表面时，会被反射回来并通过测量仪所接收，在测量仪内部含有微型计算机，能够计算声波发出及反射后的时间差，之后通过一系列的计算来得出物体的厚度。

　　二、使用时的注意事项

　　1.零点校准

　　膜厚测量仪在对薄膜厚度测量之前，需要进行零点校准，对于校准的基体材料可以采用没有涂层的材料进行校验，这样可以在大程度上消除物体形状以及表面的粗糙而带来的误差。

　　2.基体不宜过薄

　　在基体的选择上不能选择厚度过薄的集体材料，因为测量仪可能无法测量出基体的厚度而造成了厚度测量精准度的下降。

　　在本文中跟大家详细的介绍了膜厚测量仪的分类以及使用时的注意事项，希望大家日后使用测量仪设备时可以注意这几点，以便高效率的使用测量仪设备。