| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 生物产业,电子,综合 |
| 原位薄膜厚度测量仪 | MPROBE 50 INSITU |
原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集，使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是*可定制的，以支持不同的真空室几何形状。根据可用的光学端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部（使用光纤馈通）。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。
优势：
1.原位薄膜厚度和 n&k 测量
2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集
3.材料：500+ 扩展材料数据库
4.连续、快速和可靠的测量
5.灵活的配置——*定制以匹配沉积室的几何形状
选型列表：
MProbe50 | 波长范围 | 厚度范围 |
VIS | 400nm -1100nm | 15nm – 20 μm |
HRVIS | 700nm-1000nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 100nm – 200μm |
UVVisF | 200nm -900nm | 1nm – 20μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -200μm |
XT | 1590nm -1650nm | 10μm-1mm |
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