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激光测量设备

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Moku:Pro频率响应分析仪
Moku:Pro频率响应分析仪是测量被测系统频率特性的仪器。早期频率特性的测量是用信号源、电压表、频率计、相位计、示波器等单机组成，仪器操作复杂，易受干扰，测量精度低。

型号：厂商性质：代理商
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中远红外波前传感器/波前分析仪
SID4-DWIR中远红外波前传感器/波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-DWIR波前传感器是市面上一款同时覆盖3 - 5微米;m中红外和8 - 14微米远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39微米或10.6微米激光和光学系统。

型号：厂商性质：代理商
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SID4-UHR超高分辨率波前传感器/波前分析仪
大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪搭载高性能相机，也可提供的激光表征精度。高达512 x 512（可选高至666 x 666）相位取样分辨率使SID4-UHR成为研究和工业领域中用于光学和激光计量的高性能工具。

型号：SID4-UHR 厂商性质：代理商
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短波近红外波前传感器
SID4-SWIR短波近红外波前传感器凭借其高取样分辨率（80 x 64相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。

型号：厂商性质：代理商
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SID4-eSWIR短波红外波前传感器(波前分析仪)
短波红外波前传感器(波前分析仪)将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起，提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。

型号：SID4-eSWIR 厂商性质：代理商
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SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)
SID4-NIR近红外波前传感器(波前分析仪)是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。

型号：SID4-NIR 厂商性质：代理商
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SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV-HR波前传感器(波前分析仪)主要特点低至190nm波长感光灵敏 1 nm RMS高相位灵敏度 355 x 280超高相位取样分辨率

型号：SID4-UV-HR 厂商性质：代理商
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SID4-SWIR-HR高分辨率短波红外波前传感器
SID4-SWIR-HR 高分辨率短波红外波前传感器是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。

型号：SID4-SWIR-HR 厂商性质：代理商
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SID4-UV紫外波前传感器(波前分析仪)
SID4-UV 紫外波前传感器(波前分析仪)与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。

型号：SID4-UV 厂商性质：代理商
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SID4标准型波前传感器(波前分析仪)
SID4标准型波前传感器(波前分析仪):剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器，SID4覆盖可见光和近红外范围，是适用于各种激光或光学计量应用的多功能工具。

型号：SID4 厂商性质：代理商
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SID4-V真空兼容波前分析仪
SID4-V真空兼容波前分析仪法国Phasics创造性的推出了市面上真空兼容的高分辨率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的*设计使其可在真空环境下（10-6 mbar）实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量，获得更准确的测量结果。

型号：厂商性质：代理商
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高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪
高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等*的优势。

型号：厂商性质：代理商
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