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激光测量设备

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C、L波段可调谐激光器1527.605-1611.787nm
Laser-1000是一款连续波、单频、C、L波段可调谐激激光器，可调范围覆盖整个C、L波段，功率可达16.5dbm，线宽可达100 kHz，调谐分辨率0.01 pm，C、L波段可调谐激光器是一款用途广泛、成本效益高的通用仪器。C、L波段可调谐激光器1527.605-1611.787nm

型号：厂商性质：代理商
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CinCam Pico系列超小尺寸光束分析仪
超小尺寸光束分析仪-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸，CinCam确保了在对连续和脉冲激光光束测量分析时的高准确度。其即插即用的设计保证了设备的易兼容性和操作的简易型。此外Cincam光束分析仪通用的C/F-Mount接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。

型号：CinCam Pico系列厂商性质：代理商
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手持式膜厚测量仪
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC（弯曲表面）基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。

型号：厂商性质：代理商
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MPROBE 70在线薄膜厚度实时测量仪系统
在线薄膜厚度实时测量仪系统-MPROBE 70是一种高性能厚度测量系统。在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70基于光谱反射率和/或透射率测量，专为产线的连续测量而设计

型号：MPROBE 70 厂商性质：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均匀度在线测量系统
薄膜厚度均匀度在线测量系统-MPROBE 60，MProbe 60 是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。

型号：MPROBE 60 厂商性质：代理商
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。

型号：MPROBE 50 INSITU 厂商性质：代理商
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MPROBE 40 MSP微小区域薄膜厚度测量仪
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。

型号：MPROBE 40 MSP 厂商性质：代理商
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宽带飞秒光纤激光器-多色双光子显微专用
宽带飞秒光纤激光器-多色双光子显微专用SCH提供了非常宽的光谱带宽，在近红外光谱中扩展到900-1200nm光谱。这与大多数绿色和红移荧光标记的双光子激发光谱重叠，包括eGFP、mRFP和dred。

型号：厂商性质：代理商
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宽带飞秒光纤激光器
昊量光电新推出宽带飞秒光纤激光器，其基于高功率1050nm飞秒光纤激光器结合LMA-PCF光子晶体光纤非线性转换模组，飞秒光纤激光器将窄带高峰功率脉冲转换为波长为950 ~ 1200 nm的大功率宽带输出。

型号：厂商性质：代理商
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DISCO超连续谱激光器
DISCO超连续谱激光器是指当一束高强度的短脉冲通过非线性材料时，经过一系列非线性效应与线性色散的共同作用，使得出射光中产生许多新的频率成分，从而使频谱得到极大展宽的一种现象。超连续谱激光器（SupercontinuumSources）又称超连续激光器、超连续光源、白光激光器。

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Moku:Pro_PID控制器PLL锁相环
Moku:Pro_PID控制器PLL锁相环，Moku:PID控制器的PID控制器具有四个*可配置的PID控制器，具有亚微秒的延迟。这使得它们能够用于要求低和高反馈带宽的应用，如激光温度和电流稳定。通过使积分和微分控制器具有独立的增益设置，PID控制器也可以用作超前滞后补偿器。

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Moku:Pro频率响应分析仪
Moku:Pro频率响应分析仪是测量被测系统频率特性的仪器。早期频率特性的测量是用信号源、电压表、频率计、相位计、示波器等单机组成，仪器操作复杂，易受干扰，测量精度低。

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